トランス試験機5260シリーズ
5265/5266/5267

Application

RS-232接続によるPC連携に対応。また、オプションのマルチテストボックス（FX-000C26）を使用することで、外部のPLCや自動化機器との連携も可能です。

1台でトランスの低電圧側電気特性を完全測定
（インダクタンス／漏れインダクタンス／巻数比／直流抵抗／交流抵抗／バランス／容量／ピン間短絡）

自動バランスブリッジ測定方式を採用し、4線式でDCR（直流抵抗）を高精度に測定。
各相巻線のDCR値を検査することで、導通回路における接触不良やはんだ不良の可能性を確実にチェックします。

TRUN 巻数比

トランス試験器5260シリーズは、TR巻数比電圧法およびTRL巻数比インダクタンス法の両方に対応し、本パラメータを高精度に測定します。

TR法とは、一次巻線に交流電圧を印加し、二次巻線の交流電圧を測定する方法です。巻数比および位相の正確性を評価する目的で使用されます。この方法の利点は、トランスの損失を含んだ巻数比を反映するため、実際の巻数比よりも大きい測定値となる点です。これにより、開発エンジニアが期待する実際の電圧挙動に近い結果を得ることができます。

TRL法では、各巻線のインダクタンス値を測定し、その値を基に巻数比を算出します。漏れインダクタンスが大きいトランスに対しては、より正確な巻数比を得ることができるため有効です。この方法ではトランスの損失の影響を回避でき、物理的な巻数比に近い測定結果が得られます。ただし、漏れインダクタンスが大きい場合、実際の電圧比に大きな影響を及ぼす可能性があります。

トランス巻線における寄生容量と漏れインダクタンスの重要な関係:

設計者にとって理想的な状態とは、トランスの結合係数 $k=1$ を実現することですが、実際には一次巻線と二次巻線の間の結合係数は通常1未満となります。これは、一次側の磁束がすべて二次側に結合されるわけではなく、一部の磁束がコアを通らず、空間を経由して一次側に戻る「漏れ磁束（リーケージフラックス）」が発生するためです。この現象により生じるインダクタンスが**漏れインダクタンス（リーケージインダクタンス）**です。特に、高周波で使用されるフェライトコア材料では、動作周波数の上昇とともに透磁率が低下し、この漏れ磁束の影響が増大することで、トランスの性能に悪影響を与えます。

漏れインダクタンス（Lk）を低減する方法

一般的に、トランスの漏れインダクタンスは一次巻線の巻数の二乗に比例するため、巻数を減らすことで漏れインダクタンスを効果的に抑制することが可能です。また、サンドイッチ巻線構造（一次巻線を内外層に配置し、二次巻線をその間に挟む構造）を採用することで、一次・二次巻線間の磁束結合を改善し、Lkの低減につながります。

しかしながら、一次巻線の層数が多すぎる場合、逆に漏れインダクタンスが増大しやすくなるうえ、各巻線間に分布する寄生容量も大きくなります。特に高周波においては、寄生容量と漏れインダクタンスが結合して高周波領域での実効的な漏感の増加を引き起こし、スイッチング動作において瞬間的な過渡振動（リンギング）を誘発します。

このような振動は、スイッチング素子やトランス自体の損失増加にも直結するため、巻線構造の最適化および適切な巻数バランスを確保することが、低損失・高効率なトランス設計において非常に重要です。

526Xシリーズトランス試験機による漏れインダクタンス（Lk）測定する。

トランスの漏れインダクタンス（Lk）は、トランス設計や性能評価において重要なパラメータです。LCRバランスブリッジ法を使用することで、漏れインダクタンスを精密に測定することができます。この測定方法では、トランスの初級巻線と次級巻線に対する正確なインダクタンス値の測定が可能です。

まず、LCRバランスブリッジ法を用いる際、測定器に変圧器の初級巻線を接続し、次級巻線は開路状態にします。この場合、測定器が表示するインダクタンスLの値は、初級巻線のインダクタンスLpと漏れインダクタンスLkの合成値となります。しかし、この段階では、漏れインダクタンスの正確な値を取得することはできません。

漏れインダクタンスを正確に測定するためには、次級巻線を短絡する必要があります。次級巻線を短絡することで、次級巻線上にかかる電圧は0Vとなり、この状態でトランスの作用により、初級巻線の両端でも電圧が0Vになります。この時、測定器に表示される初級巻線のインダクタンスが、実際の**漏れインダクタンス（Lk）**に相当する値となります。

この方法により、変圧器内部で発生する漏れインダクタンスを正確に測定することができ、設計者はトランスの性能を精密に評価することが可能です。漏れインダクタンスの正確な測定は、高周波特性や効率、EMI（電磁干渉）対策において重要な役割を果たします。

100mA直流偏流テスト機能を提供し、変圧器の磁気飽和性能を検出します。

磁気飽和が変圧器の品質に与える危害

低圧動作状態では、磁気飽和が発生した変圧器は過熱し、長期間続くと損傷を引き起こす可能性があります。
高圧動作状態では、爆発の原因となることがあります。
磁気飽和が発生した変圧器では、初級巻線のインダクタンス（Lp）が著しく低下します。この状態では、直流抵抗（DCR）および内部のMOSFET管の消費電力が急激に増加し、最悪の場合、MOSFET管が損傷する可能性があります。

そのため、ネットワーク機器向けのトランスには、8mAの直流偏流測定が必要となります。

ネットワーク用トランスのテスト条件には、開回路インダクタンス（OCL）に関する指標が含まれており、8mAの直流偏流テストをコイルに加える必要があります。測定周波数は100kHz、測定信号の電圧は0.1Vの正弦波電圧です。インダクタンス値は350μH以上でなければなりません。ネットワーク用トランスは、ローカルエリアネットワーク（LAN）運用中に、正負極性の矩形データパルスの数が異なることにより、自動的にコイル内に8mAを超えない直流の緩やかな偏流が生成されます。この緩やかな偏流は、コイルのOCLを低下させ、矩形データパルスが平坦な下向きに変化し、誤コードを引き起こす原因となります。

近年、ネットワーク用トランスはデータ信号を送信するだけでなく、数十メートル先の電子機器（POE給電システム）に直流電圧を供給する役割も果たしています。POE電流は大電流アンペア単位で、ネットワーク用トランス内部のコモンモードチョークに緩やかな直流偏流を引き起こし、これがチョークのインダクタンスを低下させます。このインダクタンスの低下は、ネットワーク用トランスの電磁干渉抑制能力に影響を与えることになります。

Accessories

標準付属品

電源コード
フィクスチャー (F5620)
フットスイッチ (F522010)

オプション付属品

PC Link ソフトウェアフット
ケーブル (RS-232)
信号出力ボックス (ハンドラーボックス)
信号出力ボックス  (FX-000C26)

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