ケーブル試験機8761Kシリーズ
8761NAK/8761NK

Application

4線式テスト

DUTに直接接続して、測定誤差を防止します。

低抵抗のDUTを測定する場合は、4線式テスターの使用を推奨します。

低抵抗スキャン試験 10mΩ～52Ω

• 一般的な生産不良
  製造工程中に絶縁層の欠陥やずれが発生することがあります。これにより、接続不良や絶縁不良が生じる可能性があります。
  
  
• 電気検査
  導通試験（Conductivity Test）：端子の接触抵抗問題を検出します。
  耐電圧試験（Hipot Test）：回路の接触が絶縁値に適合しているかを検査します。
  抵抗試験（Resistance Test）：端子の接触点における開放／短絡（O/S）問題を検出します。

安全試験 — 耐電圧試験（HI POT試験）および絶縁抵抗試験

• 全接地試験方法

このモードで絶縁試験を実施するには、必ずグランドピンを設定する必要があります。
非接地ケーブルから特定の接地ケーブルへの絶縁試験を行うもので、テスト速度が速いという利点があります。しかし、非接地ケーブル間の絶縁試験は実施されないという欠点があります。

• クイックバイナリーテスト方法

このモードはクイック分類に類似しています。例えば、8本のテストピンがあり、DUTのA、B、C、D、E、F、G、Hをテストする場合、各ケーブルまたはピンを個別にテストすると、合否判定のために7回連続でテストを行う必要があります。

しかし、クイックテスト方式を使用すると、1回目はA、B、C、D と E、F、G、H の2グループに分けてテストし、
2回目はA、B、E、F と C、D、G、H の2グループに分けてテストし、
3回目はA、C、E、G と B、D、F、H の2グループに分けてテストします。
これにより、テストは3回だけでDUTの合否を判定できます。

したがって、もしテストDUTが128ピンある場合、個別にテストすると127回テストが必要ですが、クイックテスト方式を使えば8回のテストで済みます。

ただし、欠点としては、どのピンがエラーかを特定できず、ケーブルセグメントが並列でテストされるため、ケーブルの抵抗値が実際の値より若干低く計測される可能性があります。

• 1対他試験方法

これは高電圧絶縁試験における最も基本的な試験方法です。
高電圧をテストピンAに接続し、他のピンを接地して漏れ電流や絶縁抵抗を観察します。
次に、高電圧をテストピンBに接続し、他のピンを接地して同様に漏れ電流や絶縁抵抗を観察します。
このように、各ピンに高電圧を印加し、他のピンを接地して漏れ電流や絶縁抵抗を確認します。

この方法により、すべてのテストピンの高電圧絶縁試験に問題がないことを確認できます。
試験回数はピン数 N に対して N-1 回となります。

この試験方法は非常に正確で、各ピンごとの絶縁および漏れ電流の値を特定できますが、欠点として試験速度が遅いことが挙げられます。

• 抵抗試験
• 静電容量試験
• ダイオード試験

Accessories

標準付属品

電源コード
64P 3KV ケーブル   (AK-8600-F3)
アダプターボード   (FX-000C16)
プローブ

オプションアクセサリー

PCリンクソフトウェア
遠端控制線
キャリブレーションキット     (KB-8740K1)
複数DUT対応拡張ボックス   (874001)
アダプターボード   (FX-000C15)
アダプターボード   (FX-000C17)
ネットワーキング治具
フットスイッチ (7600010)

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