耐壓測試儀/層間短路測試儀

MICROTEST安規測試解決方案提供給元件/材料,進行耐壓絕緣測試與線圈層間短路測試,確保產品的可靠度與壽命性。

耐壓測試儀7630/7631一機提供ACWV/DCWV/IR測試項目,可擴充量測通道至72組,可程式編輯功能操作介面直觀可快速上手,滿足電子零組件、材料之安規測試。

線圈層間短路測試儀7750系列提供繞線元件(電感/變壓器/馬達)進行品質測試,檢出繞線漆包線材瑕疵、繞線工藝不佳或製程不良導致線圈短路的不良品。
耐壓測試儀/層間短路測試儀
耐壓測試儀|7640 (單通道)
耐壓測試儀
7640 (單通道)
  • AC 耐壓 5000V / DC 耐壓 6000V
  • IR 絕緣 100GΩ
  • 支援最高 72 通道測試 (7508A / 7516A)
  • 可設定上升 / 持續 / 下降時間 (0.1s-99.9s)
  • 安全開關 (INTER LOCK) 設置
  • 支援 PC 連綫 /Remote 控制
  • 設定爬升時間(0.1 ~ 10s)
  •  True RMS 量測線路
  • 電弧偵測功能
MICROTEST 7640/7641 耐壓測試儀是 3 合 1 機種 (AC/DC/IR),支援交流耐壓、直流耐壓與絕緣電阻測試功能,AC 耐壓最高 5000V/ 漏電流 30mA,DC 耐壓 6000V/ 漏電流 10mA,量測絕緣電阻時,電壓最大輸出至6000V,絕緣阻抗範圍 200kΩ~100GΩ,產線選型可選多通道量測方案,7641 單機支援 8 組測試通道,可再搭載 7508A/7516A 多通道掃描盒,最高可達 72 組測試通道,此外,支援 PC 連線軟體、 USB存儲測試數據。
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耐壓測試儀|7641 (8組測試通道)
耐壓測試儀
7641 (8組測試通道)
  • AC 耐壓 5000V / DC 耐壓 6000V
  • IR 絕緣 100GΩ
  • 支援最高 72 通道測試 (7508A / 7516A)
  • 可設定上升 / 持續 / 下降時間 (0.1s-99.9s)
  • 安全開關 (INTER LOCK) 設置
  • 支援 PC 連綫 /Remote 控制
  • 設定爬升時間(0.1 ~ 10s)
  •  True RMS 量測線路
  • 電弧偵測功能
MICROTEST 7640/7641 耐壓測試儀是 3 合 1 機種 (AC/DC/IR),支援交流耐壓、直流耐壓與絕緣電阻測試功能,AC 耐壓最高 5000V/ 漏電流 30mA,DC 耐壓 6000V/ 漏電流 10mA,量測絕緣電阻時,電壓最大輸出至6000V,絕緣阻抗範圍 200kΩ~100GΩ,產線選型可選多通道量測方案,7641 單機支援 8 組測試通道,可再搭載 7508A/7516A 多通道掃描盒,最高可達 72 組測試通道,此外,支援 PC 連線軟體、 USB存儲測試數據。
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耐壓測試儀|7631 (8組測試通道)
耐壓測試儀
7631 (8組測試通道)
  • 支援8通道測量
  • AC耐壓5000V
  • DC耐壓6000V
  • 絕緣阻抗12000MΩ
  • 電弧偵測功能(檢測磁性元件放電瑕疵)
  • 可擴充多通道測量(7508/7516)
  • True RMS 量測線路
  • 持續測試時間 (0.1 ~ 999s)
  • 設定爬升時間(0.1 ~ 10s)
  • 安全開關(INTER LOCK)設置
  • 可選購PC Link軟體
MICROTEST 7631耐壓測試儀是3合1機種,支援交流耐壓、直流耐壓與絕緣電阻測試功能,AC耐壓最高5000V/漏電流30mA,DC耐壓6000V/漏電流10mA,絕緣電阻最大12000MΩ,提供8組測試通道,立可選購7508/7516多通道掃描盒,最高可達72組測試通道,支援PC連線軟體進行遠端編程與存儲測試數據,與條碼機連結進行Bar Code掃碼,進行生產履歷追溯管理。
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耐壓測試儀|7630 (單通道)
耐壓測試儀
7630 (單通道)
  •  AC耐壓5000V
  • DC耐壓6000V
  • 絕緣阻抗12000MΩ
  • 電弧偵測功能(檢測磁性元件放電瑕疵)
  • True RMS 量測線路
  • 持續測試時間 (0.1 ~ 999s)
  • 設定爬升時間(0.1 ~ 10s)
  • 安全開關(INTER LOCK)設置
  • 可選購PC Link軟體
MICROTEST 7630耐壓測試儀是3合1機種,支援交流耐壓、直流耐壓與絕緣電阻測試功能,AC耐壓最高5000V/漏電流30mA,DC耐壓6000V/漏電流10mA,絕緣電阻最大12000MΩ,支援PC連線軟體進行遠端編程與存儲測試數據,與條碼機連結進行Bar Code掃碼,進行生產履歷追溯管理。
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線圈層間短路測試儀 7750系列|7750-10S/5S/5H/5E/1S
線圈層間短路測試儀 7750系列
7750-10S/5S/5H/5E/1S
  •  最小電感值≥0.1μH
  • 電壓補償功能
  • 高速脈衝取樣率200MHz/9bits
  • 崩潰電壓測試
  • 穩定極速測試:10次/秒
  • 可程式非破壞性脈衝電壓測試
  • 儀器內建可儲存128組測試波形
  • USB Host快速存取測試畫面
  • 五種波形比對,檢測繞線元件層間短路不良
全新一代彩色顯示屏幕速度更快的MICROTEST 7750線圈層間短路測試儀,提供1200V/5200V/10000V脈衝電壓輸出,200MHz/9bits高速取樣技術提供多種比對模式,包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對、二階微分比對與波形比對模式,測試速度高達10次/秒,上自動線是最佳的選擇。針對小感量可選型7750-1層間短路測試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測試治具,支援電壓補償功能,避免配線引起的等效電感引起測試電壓誤差過大,為小電感產品把關品質。
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線圈層間短路測試儀 7759系列|7759-10S/5S/5H/5E/1S
線圈層間短路測試儀 7759系列
7759-10S/5S/5H/5E/1S
  • 最小電感值≥1μH
  • 支援8組測試通道
  • 電壓補償功能
  • 高速脈衝取樣率200MHz/9bits
  • 崩潰電壓測試
  • 穩定極速測試:10次/秒
  • 可程式非破壞性脈衝電壓測試
  • 儀器內建可儲存128組測試波形
  • USB Host快速存取測試畫面
  • 六種波形比對,檢測繞線元件層間短路不良
全新一代彩色顯示屏幕速度更快的MICROTEST 7759線圈層間短路測試儀,提供1200V/5200V/10000V脈衝電壓輸出,200MHz/9bits高速取樣技術提供多種比對模式,包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對、二階微分比對與波形比對模式,測試速度高達10次/秒,支援8組測試通道,上自動線是最佳的選擇。
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線圈匝間短路測試儀|7703 (5000V)
線圈匝間短路測試儀
7703 (5000V)
 本系列將於2025/1/1停產(產品服務將持續5年),替代機種為7750系列
  • 單通道測試
  • 最小電感值測試(0.5uH)
  • 高頻諧波分析
  • 高頻雜訊分析
  • 採用非破壞性脈衝高壓檢測技術
  • 利用L/C諧振波型進行分析比對出線圈短路問題
  • 支援高壓校正功能
  • 提供5種波型比對模式
  • 按鍵鎖定功能,防止人員誤觸按鍵
  • 支援Remote、Printer介面
MICROTEST 7703 線圈層間短路測試儀提供100V-5000V脈衝電壓輸出,藉由L/C共振產出的阻尼衰減波形分析磁性元件線圈與線圈之間或漆包線層與層之間有缺陷造成短路的不良品,此款針對Inverter-變壓器產品,支援高頻諧波/高頻雜訊分析模式,透過高頻諧方式將波形放大進行更精密的比對出高壓線圈跨槽所引起的絕緣不良現象,另外比對模式包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對與與波形比對。
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線圈匝間短路測試儀|7713 (10000V)
線圈匝間短路測試儀
7713 (10000V)
本系列將於2025/1/1停產(產品服務將持續5年),替代機種為7750系列
  • 單通道測試
  • 最小電感值測試(0.5uH)
  • 高頻諧波分析
  • 高頻雜訊分析
  • 採用非破壞性脈衝高壓檢測技術
  • 利用L/C諧振波型進行分析比對出線圈短路問題
  • 支援高壓校正功能
  • 提供5種波型比對模式
  • 按鍵鎖定功能,防止人員誤觸按鍵
  • 支援Remote、Printer介面
MICROTEST 7713 線圈層間短路測試儀提供200V-10000V脈衝電壓輸出,藉由L/C共振產出的阻尼衰減波形分析磁性元件線圈與線圈之間或漆包線層與層之間有缺陷造成短路的不良品,此款針對Inverter-變壓器產品,支援高頻諧波/高頻雜訊分析模式,透過高頻諧方式將波形放大進行更精密的比對出高壓線圈跨槽所引起的絕緣不良現象,另外比對模式包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對與與波形比對。
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線圈匝間短路測試儀|7700 (5000V)
線圈匝間短路測試儀
7700 (5000V)
本系列將於2025/1/1停產(產品服務將持續5年),替代機種為7750系列
  • 單通道測試
  • 支援高壓校正功能
  • 提供5種波型比對模式
  • 支援Remote、Printer介面
  • 採用非破壞性脈衝高壓檢測技術
  • 按鍵鎖定功能,防止人員誤觸按鍵
  • 利用L/C諧振波型進行分析比對出線圈短路問題
MICROTEST 7700線圈層間短路測試儀提供200V-5000V脈衝電壓輸出,藉由L/C共振產出的阻尼衰減波形分析磁性元件線圈與線圈之間或漆包線層與層之間有缺陷造成短路的不良品。比對模式包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對與與波形比對。
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